IEC 60749-29-2011 半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:闭锁试验

作者:标准资料网 时间:2024-05-05 17:38:18  浏览:8504   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part29:Latch-uptest
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第29部分:闭锁试验
【标准号】:IEC60749-29-2011
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2011-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC47
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候试验;组件;定义(术语);破坏试验;尺寸规格;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境测试;故障;集成电路;闭锁;机械测试;过电压试验;可靠度;耐力;谐振器;半导体器件;试验;试验装置
【英文主题词】:Climatictests;Components;Definitions;Destructivetesting;Dimensions;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Failure;Integratedcircuits;Latch-up;Mechanicaltesting;Overvoltagetests;Reliability;Resistance;Resonators;Semiconductordevices;Testing;Testingdevices
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:48P;A4
【正文语种】:英语