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DIN EN 27726-1993 热环境.物理量的测量方法和仪表

作者:标准资料网 时间:2024-05-17 08:25:57  浏览:9834   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Thermalenvironments;instrumentsandmethodsformeasuringphysicalquantities(ISO7726:1985);GermanversionEN27726:1993
【原文标准名称】:热环境.物理量的测量方法和仪表
【标准号】:DINEN27726-1993
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1993-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:环境;工作地点;工作环境;人类工效学;热平衡;温度测量仪表;温度测量;操作台;环境条件;物理性能;温度致适;人体;物理的;自然工作条件;测量仪器;特性;特性
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:Z30;N51
【国际标准分类号】:13_040_20
【页数】:31P;A4
【正文语种】:德语


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MIL-G-22050D, MILITARY SPECIFICATION: GASKET AND PACKING MATERIAL, RUBBER, FOR USE WITH POLAR FLUIDS, STEAM, AND AIR AT MODERATELY HIGH TEMPERATURES (07 MAY 1993) [S/S BY MIL-DTL-22050E]., This specification covers rubber gaskets, packing, seals, strips, material for use in hot air, hot water, steam, and various polar fluids such as aqueous monoethanolamine (MEA), at moderately high temperatures (see 6.1).
基本信息
标准名称:高分辩率X射线衍射测量GaAs衬底生长的AlGaAs中Al成分的试验方法
英文名称:Test method for measuring the Al fraction in AlGaAs on GaAs substrates by high resolution X-ray diffraction
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:2009-10-30
作废日期:
主管部门:国家标准化管理委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心、中国电子科技集团公司第四十六研究所
起草人:章安辉、黄庆涛、何秀坤
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:12页
计划单号:20070860-T-469
适用范围

本标准规定了用高分辨X 射线衍射测量GaAs衬底上AlGaAs外延层中Al含量的试验方法。
本方法适用于在未掺杂GaAs衬底<001>方向上生长的AlGaAs外延层中Al含量的测定,使用
本方法测量Al元素含量时,AlGaAs外延层厚度应大于300nm。

前言

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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料